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利用第三主轴实现外质吸杂※的应用
※外质吸杂:是在Si晶圆内由研削而形成微细的变质层(吸杂区域), 在该吸杂区域内可以捕获/固定重金属等杂质的技术 Gettering DP 采用干式抛光,兼顾高抗弯强度和维持外质吸杂效果的迪思科独有的解决方案。 研磨轮「UltraPoligrind」 采用微细磨粒「UltraPoligrind」,无需使用化学药物即可进行薄型晶圆加工。既可维持由于研削产生的外质吸杂效果,又可够获得以往研磨轮所无法得到的高抗弯强度。 系统扩展功能与多功能晶圆贴膜机「DFM2800」联机使用,可一次性完成薄型晶圆DAF薄膜(Die Attach Film)贴膜作业。并且可对应DBG(Dicing Before Grinding)工艺(特殊选项)。 维持与现有8000系列机型间的兼容性及零部件互换性DGP8761的研磨轮、磨轮修整板等与现有8000系列机型具有互换性。另外,该机型的操作方法及GUI(Graphical User Interface)的画面构成方面也与现有机型具有大量共通性。 加工物流程系统 用机械手臂将晶圆从晶圆盒中取出,放到中心定位台上进行中心定位、 用T1取物手臂将晶圆搬运到工作台上→ 进行粗研磨加工→ 进行细研磨加工→ 进行干式抛光加工(去除残余应力)→ 用T2取物手臂将晶圆从工作台移到离心清洗台上→ 进行清洗→干燥→ 移到贴膜机上(DFM2800)。 或者由机械手臂将工作物送回到晶圆盒。 Specifications Specification Unit Supported workpiece size mm Φ300(Φ200 / Φ300) Grinding Method (Z1/Z2 axis) - In-feed grinding with wafer rotation Grinding Method (Z3 axis) - Anomalous in-feed grinding with wafer rotation Grinding Wheels - Φ300 mm Diamond wheel (grinding-axis) Φ450 mm Dry polishing pad (DP-axis) Φ450 mm CMP pad (CMP-axis) Equipment dimensions (W×D×H) mm 1,690 × 3,315 × 1,800 (open cassette) 1,690 × 3,452 × 1,800 (FOUP) Equipment weight kg Approx. 6,700(DP, Poligrind) Approx. 6,900 (CMP)※为了改善,机器的外观,特征,规格等本公司可能在未预先通知用户的情况下实施变更。 ※使用时,请先确认标准规格书。 |
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