植入型心律转复除颤器治疗的中国专家共识

除颤阈值(defibrillation threshold，DFT)概念于1963年第1次提出，定义为终止室颤所需的最小能量[64]。但是"阈值"这个概念并不适用于除颤。因为此处的除颤阈值只是指除颤成功的概率性。临床上通常以成功概率曲线来描述，横坐标为除颤能量，纵坐标为成功率。

DFT的测试方法常用的有两种：10 J安全范围法以及逐级降低能量测试法。前者是以低于最大除颤能量至少10 J以上的能量进行除颤，仅需诱发1次室颤，是目前临床最为常用的方法。逐级降低能量测试法需多次诱发室颤，精确但临床少用。早期ICD只有除颤功能，仅用于室颤患者的治疗。DFT作为ICD植入术中的标准流程，以确认ICD的感知和除颤功能，其作用毋庸置疑。但是随着ICD适应证的拓宽以及ICD工艺和技术的改进，DFT测试是否仍有其必要性，许多学者产生了不同观点。

支持DFT测试的理由：①DFT测试是ICD植入过程的标准流程；②DFT测试中发现高DFT可以及时调整，使患者能接受更有效的除颤治疗；③较精确的DFT测试，可程控较低的除颤能量，而低除颤能量具有充电时间短、对心肌损伤小和节约电能等优点；④自发性室颤的除颤失败是ICD患者猝死的主要原因。有报道，没有达到10 J的安全范围是在双相波、经静脉植入导线的ICD患者发生SCD的独立预测因子[65]。若ICD患者出现不明原因死亡，而医生未按标准流程进行DFT测试，可能使医生位于非常不利和被动的局面，出现医学伦理问题[66]。

不支持DFT测试的理由：①诱发性室颤不同于自发性室颤，临床最常见的需要ICD治疗的心律失常是室速；②DFT测试不能预测临床除颤能否成功，DFT测试成功，随访中自发性室颤除颤可能不成功；DFT测试不成功，随访中自发性室颤除颤也可能成功；③有研究报道DFT测试与否不影响长期预后[67]; ④DFT测试有一定风险[68]；⑤ICD植入术后发生猝死未必与DFT测试有关，可以由导线和ICD故障所致也可以是除颤成功，但电机械分离引起。

2014年5月在美国心律学年会(HRS)上首次公布了SIMPLE(Shockless implant evaluation)研究[69]的结果。，该研究的主要目的是评价在ICD植入过程中，进行DFT测试对患者长期临床预后的影响。为前瞻性多中心随机对照研究，纳入2 500例新植入ICD/CRT-D患者，随机分为DFT组(传统组，1 242例)和非DFT组(试验组，1 237例)，平均随访(3.1 ±1.0)年。研究结果显示，首次除颤成功率两组间差异无统计学意义(传统组86%，试验组91%，P>0.05)。随访期间的全因病死率差异无统计学意义。该研究结论为：①DFT测试不能提高患者ICD除颤的有效性，也不降低病死率；②DFT测试风险较低，但仍会发生较为严重的并发症；③ICD植入过程中，推荐不常规进行DFT测试。

建议：ICD植入过程中，针对一级预防的患者，推荐不常规进行DFT测试。而对二级预防的患者，可根据患者基础心脏疾病、心功能状况以及室性心律失常类型等，由植入医生决定是否进行DFT测试。